Rapid Reliability Assessment of VLSICs - A.P. Dorey - Libros - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461278795 - 8 de marzo de 2012
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Rapid Reliability Assessment of VLSICs Softcover reprint of the original 1st ed. 1990 edition

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The increasing application of integrated circuits in situations where high reliability is needed places a requirement on the manufacturer to use methods of testing to eliminate devices that may fail on service.


212 pages, black & white illustrations

Medios de comunicación Libros     Paperback Book   (Libro con tapa blanda y lomo encolado)
Publicado 8 de marzo de 2012
ISBN13 9781461278795
Editores Springer-Verlag New York Inc.
Páginas 212
Dimensiones 170 × 244 × 12 mm   ·   349 g
Lengua Inglés  

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