Evaluation of Advanced Semiconductor Materials by Electron Microscopy - NATO Science Series B - David Cherns - Libros - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461278504 - 13 de octubre de 2011
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Evaluation of Advanced Semiconductor Materials by Electron Microscopy - NATO Science Series B Softcover reprint of the original 1st ed. 1989 edition

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With these developments in mind, an application was made to the NATO Science Committee in late summer 1987 to fund an Advanced Research Work shop to review the electron microscopy of advanced semiconductors.


412 pages, biography

Medios de comunicación Libros     Paperback Book   (Libro con tapa blanda y lomo encolado)
Publicado 13 de octubre de 2011
ISBN13 9781461278504
Editores Springer-Verlag New York Inc.
Páginas 412
Dimensiones 170 × 244 × 22 mm   ·   680 g
Lengua Inglés  
Editor Cherns, David

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