Microelectronic Test Structures for CMOS Technology - Manjul Bhushan - Libros - Springer-Verlag New York Inc. - 9781441993762 - 30 de agosto de 2011
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Manjul Bhushan
Microelectronic Test Structures for CMOS Technology 2011 edition

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Microelectronic Test Structures for CMOS Technology and Products addresses the basic concepts of the design of test structures for incorporation within test-vehicles, scribe-lines, and CMOS products.

373 pages, 37 black & white tables, biography

Medios de comunicación Libros     Hardcover Book   (Libro con lomo y cubierta duros)
Publicado 30 de agosto de 2011
ISBN13 9781441993762
Editores Springer-Verlag New York Inc.
Páginas 373
Dimensiones 155 × 235 × 23 mm   ·   743 g
Lengua Inglés  

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