Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization - Frontiers in Electronic Testing - Erik Larsson - Libros - Springer-Verlag New York Inc. - 9781441952691 - 2 de febrero de 2011
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Erik Larsson
Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization - Frontiers in Electronic Testing Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2005 edition

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SOC test design and its optimization is the topic of Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization. The second part of the book discusses SOC related problems such as system modeling, test conflicts, power consumption, test access mechanism design, test scheduling and defect-oriented scheduling.

388 pages, biography

Medios de comunicación Libros     Paperback Book   (Libro con tapa blanda y lomo encolado)
Publicado 2 de febrero de 2011
Fecha de lanzamiento original 2010
ISBN13 9781441952691
Editores Springer-Verlag New York Inc.
Páginas 388
Dimensiones 150 × 220 × 10 mm   ·   571 g
Lengua Inglés  

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