Nanometer Technology Designs: High-Quality Delay Tests - Nisar Ahmed - Libros - Springer-Verlag New York Inc. - 9781441945594 - 14 de diciembre de 2011
En caso de que portada y título no coincidan, el título será el correcto

Nisar Ahmed
Nanometer Technology Designs: High-Quality Delay Tests 2008 edition

Precio
$ 106,99
sin IVA

Pedido desde almacén remoto

Entrega prevista 19 de jun. - 2 de jul.

Nuestros clientes opinan:

Política de devolución de 14 días conforme a la legislación europea de protección de los consumidores
Mejor valorado en Trustpilot
Añadir a tu lista de deseos de iMusic

También disponible como:

Traditional at-speed test methods cannot guarantee high quality test results as they face many new challenges. Supply noise effects on chip performance, high test pattern volume, small delay defect test pattern generation, high cost of test implementation and application, and utilizing low-cost testers are among these challenges.

281 pages, black & white illustrations

Medios de comunicación Libros     Paperback Book   (Libro con tapa blanda y lomo encolado)
Publicado 14 de diciembre de 2011
ISBN13 9781441945594
Editores Springer-Verlag New York Inc.
Páginas 281
Dimensiones 155 × 235 × 15 mm   ·   421 g
Lengua Inglés  

Mere med samme udgiver

Ver todo de Nisar Ahmed ( Ej. Hardcover Book y Paperback Book )