Telman Aliev
Digital Noise Monitoring of Defect Origin - Lecture Notes in Electrical Engineering Telman Aliev Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2007 edition

Name: Digital Noise Monitoring of Defect Origin - Lecture Notes in Electrical Engineering
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Author: Telman Aliev

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2007 edition

(2007) $ 122,49

Digital Noise Monitoring of Defect Origin - Lecture Notes in Electrical Engineering

Telman Aliev

Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2007 edition

This book explores the initial stage of the origin of the defect taking into account technical, biological, and other features of several technologies. These technologies allow the defect monitoring at the beginning of the defect origin to be performed at the expense of extracting information from the noise.

224 pages, biography

Medios de comunicación	Libros Paperback Book (Libro con tapa blanda y lomo encolado)
Publicado	24 de noviembre de 2010
ISBN13	9781441944108
Editores	Springer-Verlag New York Inc.
Páginas	224
Dimensiones	155 × 235 × 12 mm · 335 g
Lengua	Inglés