Microscopy of Semiconducting Materials 2007: Proceedings of the 15th Conference, 2-5 April 2007, Cambridge, UK - Springer Proceedings in Physics - - Libros - Springer-Verlag New York Inc. - 9781402086144 - 18 de septiembre de 2008
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Microscopy of Semiconducting Materials 2007: Proceedings of the 15th Conference, 2-5 April 2007, Cambridge, UK - Springer Proceedings in Physics 2008 edition

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In view of this scenario, the vital importance of transmission and scanning electron microscopy, together with X-ray and scanning probe approaches can immediately be seen. The conference featured developments in high resolution microscopy and nanoanalysis, including the exploitation of recently introduced aberration-corrected electron microscopes.

512 pages, Illustrations (some col.)

Medios de comunicación Libros     Hardcover Book   (Libro con lomo y cubierta duros)
Publicado 18 de septiembre de 2008
ISBN13 9781402086144
Editores Springer-Verlag New York Inc.
Páginas 498
Dimensiones 155 × 235 × 25 mm   ·   975 g
Editor Cullis, A.G.
Editor Midgley, P.A.

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