Testing Static Random Access Memories: Defects, Fault Models and Test Patterns - Frontiers in Electronic Testing - Said Hamdioui - Libros - Springer-Verlag New York Inc. - 9781402077524 - 31 de marzo de 2004
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Said Hamdioui
Testing Static Random Access Memories: Defects, Fault Models and Test Patterns - Frontiers in Electronic Testing 2004 edition

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Features: -Fault primitive based analysis of memory faults, -A complete framework of and classification memory faults, -A systematic way to develop optimal and high quality memory test algorithms, -A systematic way to develop test patterns for any multi-port SRAM, -Challenges and trends in embedded memory testing.

221 pages, biography

Medios de comunicación Libros     Hardcover Book   (Libro con lomo y cubierta duros)
Publicado 31 de marzo de 2004
ISBN13 9781402077524
Editores Springer-Verlag New York Inc.
Páginas 221
Dimensiones 155 × 235 × 14 mm   ·   526 g
Lengua Inglés  

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