High Performance Memory Testing: Design Principles, Fault Modeling and Self-test - Frontiers in Electronic Testing - R. Dean Adams - Libros - Kluwer Academic Publishers - 9781402072550 - 30 de septiembre de 2002
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R. Dean Adams
High Performance Memory Testing: Design Principles, Fault Modeling and Self-test - Frontiers in Electronic Testing 2002 edition

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Memory applications and the number of designs and the sheer number of bits on each design are critical. Based on the author's experience in memory design, memory reliability development and memory self test, this book is written for professionals and researchers, helping them understand the memories that are tested.

250 pages, biography

Medios de comunicación Libros     Hardcover Book   (Libro con lomo y cubierta duros)
Publicado 30 de septiembre de 2002
ISBN13 9781402072550
Editores Kluwer Academic Publishers
Páginas 250
Dimensiones 156 × 234 × 15 mm   ·   562 g
Lengua Inglés  

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