Defects in HIgh-k Gate Dielectric Stacks: Nano-Electronic Semiconductor Devices - NATO Science Series II - E Gusev - Libros - Springer-Verlag New York Inc. - 9781402043666 - 27 de enero de 2006
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E Gusev
Defects in HIgh-k Gate Dielectric Stacks: Nano-Electronic Semiconductor Devices - NATO Science Series II 2006 edition

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Proceedings of the NATO Advanced Research Workshop on Defects in Advanced High-K Dielectric Nano-Electronic Semiconductor Devices, St. Petersburg, Russia, from 11 to 14 July 2005.

492 pages, biography

Medios de comunicación Libros     Paperback Book   (Libro con tapa blanda y lomo encolado)
Publicado 27 de enero de 2006
ISBN13 9781402043666
Editores Springer-Verlag New York Inc.
Páginas 492
Dimensiones 155 × 235 × 25 mm   ·   703 g
Lengua Inglés  
Editor Gusev, Evgeni

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