Applied Rasch Measurement: A Book of Exemplars: Papers in Honour of John P. Keeves - Education in the Asia-Pacific Region: Issues, Concerns and Prospects - S Alagumalai - Libros - Springer-Verlag New York Inc. - 9781402030727 - 15 de febrero de 2005
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S Alagumalai
Applied Rasch Measurement: A Book of Exemplars: Papers in Honour of John P. Keeves - Education in the Asia-Pacific Region: Issues, Concerns and Prospects 2005 edition

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This book attempts to describe the underlying axioms of test theory, and, in particular, the concepts of objective measurement and the Rasch model, and then link theory to practice.

360 pages, biography

Medios de comunicación Libros     Hardcover Book   (Libro con lomo y cubierta duros)
Publicado 15 de febrero de 2005
ISBN13 9781402030727
Editores Springer-Verlag New York Inc.
Páginas 360
Dimensiones 155 × 235 × 22 mm   ·   707 g
Lengua Inglés  
Editor Alagumalai, Sivakumar
Editor Curtis, David D.
Editor Hungi, Njora

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