Scanning Probe Microscopy: Characterization, Nanofabrication and Device Application of Functional Materials: Proceedings of the NATO Advanced Study Institute on Scanning Probe Microscopy: Characterization, Nanofabrication and Device Application of Functio - Paula Maria Vilarinho - Libros - Springer-Verlag New York Inc. - 9781402030178 - 2 de marzo de 2005
En caso de que portada y título no coincidan, el título será el correcto

Paula Maria Vilarinho
Scanning Probe Microscopy: Characterization, Nanofabrication and Device Application of Functional Materials: Proceedings of the NATO Advanced Study Institute on Scanning Probe Microscopy: Characterization, Nanofabrication and Device Application of Functio 2005 edition

Precio
$ 350,49
sin IVA

Pedido desde almacén remoto

Entrega prevista 19 de jun. - 8 de jul.

Nuestros clientes opinan:

Política de devolución de 14 días conforme a la legislación europea de protección de los consumidores
Mejor valorado en Trustpilot
Añadir a tu lista de deseos de iMusic

También disponible como:

Starting with the general properties of functional materials the authors present an updated overview of the fundamentals of Scanning Probe Techniques and the application of SPM techniques to the characterization of specified functional materials such as piezoelectric and ferroelectric and to the fabrication of some nano electronic devices.

488 pages, biography

Medios de comunicación Libros     Hardcover Book   (Libro con lomo y cubierta duros)
Publicado 2 de marzo de 2005
ISBN13 9781402030178
Editores Springer-Verlag New York Inc.
Páginas 488
Dimensiones 156 × 232 × 28 mm   ·   961 g
Lengua Inglés  
Editor Kingon, Angus
Editor Rosenwaks, Yossi
Editor Vilarinho, Paula M.

Mere med samme udgiver

Ver todo de Paula Maria Vilarinho ( Ej. Hardcover Book y Paperback Book )