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Emotional and Cognitive Overload: The Dark Side of Information Technology Rutkowski, Anne-Francoise (Tilburg University, The Netherlands) 1.º edición
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Emotional and Cognitive Overload: The Dark Side of Information Technology
Rutkowski, Anne-Francoise (Tilburg University, The Netherlands)
In this important new book, the idea of brain overload is defined and explored, from its impact on our decision-making and memory, to how we may cope with the resultant ‘technostress’. Supported by case studies and also exploring the idea of ‘IT addiction’.
170 pages, 5 Line drawings, black and white; 3 Tables, black and white; 5 Illustrations, black and w
| Medios de comunicación | Libros Paperback Book (Libro con tapa blanda y lomo encolado) |
| Publicado | 7 de septiembre de 2018 |
| ISBN13 | 9781138053359 |
| Editores | Taylor & Francis Ltd |
| Páginas | 170 |
| Dimensiones | 234 × 156 × 16 mm · 280 g |
| Lengua | Inglés |
