Next Generation HALT and HASS: Robust Design of Electronics and Systems - Quality and Reliability Engineering Series - Kirk A. Gray - Libros - John Wiley & Sons Inc - 9781118700235 - 23 de mayo de 2016
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Kirk A. Gray
Next Generation HALT and HASS: Robust Design of Electronics and Systems - Quality and Reliability Engineering Series 1.º edición

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Next Generation HALT and HASS presents a major paradigm shift from reliability prediction-based methods to discovery of electronic systems reliability risks.

300 pages

Medios de comunicación Libros     Hardcover Book   (Libro con lomo y cubierta duros)
Publicado 23 de mayo de 2016
ISBN13 9781118700235
Editores John Wiley & Sons Inc
Páginas 296
Dimensiones 236 × 161 × 19 mm   ·   498 g
Lengua Inglés  

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