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Secondary Ion Mass Spectrometry: An Introduction to Principles and Practices Paul Van Der Heide 1.º edición
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Secondary Ion Mass Spectrometry: An Introduction to Principles and Practices
Paul Van Der Heide
This book serves as a practical reference for anyone involved in any form of Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS). This is presented in a concise yet comprehensive manner to those wanting to know more about the technique in general as opposed to advanced sample specific procedures/applications.
384 pages, illustrations
| Medios de comunicación | Libros Hardcover Book (Libro con lomo y cubierta duros) |
| Publicado | 15 de septiembre de 2014 |
| ISBN13 | 9781118480489 |
| Editores | John Wiley & Sons Inc |
| Páginas | 384 |
| Dimensiones | 160 × 243 × 24 mm · 657 g |
| Lengua | Inglés |
