Microelectronic Reliability Vol. I: Test - Edward B. Hakim - Libros - Artech House Publishers - 9780890062845 - 31 de enero de 1989
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Microelectronic Reliability Vol. I: Test

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Text/reference spaning the theoretical concepts of reliability models and failure distributions, to GaAs microcircuit processing and test. Provides background on the development of quality assurance and verification procedures. Some of the new changes under development to cope with pressures brought


396 pages, 1, black & white illustrations

Medios de comunicación Libros     Hardcover Book   (Libro con lomo y cubierta duros)
Publicado 31 de enero de 1989
ISBN13 9780890062845
Editores Artech House Publishers
Páginas 396
Dimensiones 161 × 238 × 30 mm   ·   771 g
Editor Hakim, Edward B.

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