Speckle Metrology - Optical Science and Engineering - Sirohi - Libros - Taylor & Francis Inc - 9780824789329 - 20 de mayo de 1993
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Sirohi
Speckle Metrology - Optical Science and Engineering 1.º edición

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Covers speckle metrology and its value as a measuring technique in industry. This book also surveys the origin of speckle displacement and decorrelation, presents procedures for deformation analysis and shape measurement of rough objects, and explains particle image velocimetry (PIV).

568 pages

Medios de comunicación Libros     Hardcover Book   (Libro con lomo y cubierta duros)
Publicado 20 de mayo de 1993
ISBN13 9780824789329
Editores Taylor & Francis Inc
Páginas 572
Dimensiones 150 × 220 × 20 mm   ·   861 g
Lengua Inglés  
Editor de series Thompson, Brian J. (University of Rochester, New York, USA)

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