Random Testing of Digital Circuits: Theory and Applications - Rene David - Libros - Taylor & Francis Inc - 9780824701826 - 8 de abril de 1998
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Rene David
Random Testing of Digital Circuits: Theory and Applications 1.º edición

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"Introduces a theory of random testing in digital circuits for the first time and offers practical guidance for the implementation of random pattern generators, signature analyzers design for random testability, and testing results. Contains several new and unpublished results. "

496 pages, bibliography, illustrations

Medios de comunicación Libros     Hardcover Book   (Libro con lomo y cubierta duros)
Publicado 8 de abril de 1998
ISBN13 9780824701826
Editores Taylor & Francis Inc
Páginas 500
Dimensiones 152 × 229 × 29 mm   ·   853 g
Lengua Inglés  

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