Microelectronic Manufacturing Yield Reliability and Failure Analysis-25-26 October 1995 Austin Texas - Piccoli - Libros - SPIE Press - 9780819420015 - 31 de diciembre de 1995
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Piccoli
Microelectronic Manufacturing Yield Reliability and Failure Analysis-25-26 October 1995 Austin Texas

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284 pages, illustrations

Medios de comunicación Libros     Paperback Book   (Libro con tapa blanda y lomo encolado)
Publicado 31 de diciembre de 1995
ISBN13 9780819420015
Editores SPIE Press
Páginas 284
Dimensiones 150 × 220 × 10 mm   ·   629 g   (Peso (estimado))

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