Testability Concepts for Digital Ics: the Macro Test Approach - Frontiers in Electronic Testing - Frans P. M. Beenker - Libros - Kluwer Academic Publishers - 9780792396581 - 30 de noviembre de 1995
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Testability Concepts for Digital Ics: the Macro Test Approach - Frontiers in Electronic Testing 1995 edition

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Considering the testability aspects for digital ICs, this book integrates the testability aspects into the design and manufacturing of ICs and, for each IC design project, gives a precise definition of the boundary conditions, responsibilities, interfaces and communications between persons, and quality targets.


212 pages, biography

Medios de comunicación Libros     Hardcover Book   (Libro con lomo y cubierta duros)
Publicado 30 de noviembre de 1995
ISBN13 9780792396581
Editores Kluwer Academic Publishers
Páginas 212
Dimensiones 170 × 244 × 14 mm   ·   498 g
Lengua Inglés  

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