Electrical Characterization of Silicon-on-insulator Materials and Devices - the Springer International Series in Engineering and Computer Science - Sorin Cristoloveanu - Libros - Kluwer Academic Publishers - 9780792395485 - 30 de junio de 1995
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Electrical Characterization of Silicon-on-insulator Materials and Devices - the Springer International Series in Engineering and Computer Science 1995 edition

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Describes a variety of electrical characterization methods, from wafer screening and defect identification to detailed device evaluation. This book provides a comprehensive treatment of different aspects of SOI technologies, including material synthesis, device physics, characterization, circuit applications, and reliability issues.


396 pages, biography

Medios de comunicación Libros     Hardcover Book   (Libro con lomo y cubierta duros)
Publicado 30 de junio de 1995
ISBN13 9780792395485
Editores Kluwer Academic Publishers
Páginas 396
Dimensiones 156 × 234 × 22 mm   ·   734 g
Lengua Inglés  

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