Assessing Fault Model and Test Quality - The Springer International Series in Engineering and Computer Science - Kenneth M. Butler - Libros - Springer - 9780792392224 - 31 de octubre de 1991
En caso de que portada y título no coincidan, el título será el correcto

Assessing Fault Model and Test Quality - The Springer International Series in Engineering and Computer Science 1992 edition

Precio
$ 122,49
sin IVA

Pedido desde almacén remoto

Entrega prevista 20 de ago. - 8 de sep.
Recibe notificaciones sobre nuevos lanzamientos de Kenneth M. Butler
Añadir a tu lista de deseos de iMusic

Aún no valorado

También disponible como:

For many years, the dominant fault model in automatic test pattern gen eration (ATPG) for digital integrated circuits has been the stuck-at fault model.


132 pages, biography

Medios de comunicación Libros     Hardcover Book   (Libro con lomo y cubierta duros)
Publicado 31 de octubre de 1991
ISBN13 9780792392224
Editores Springer
Páginas 132
Dimensiones 155 × 235 × 11 mm   ·   399 g
Lengua Inglés  

Más del mismo editor