Hierarchical Modeling for VLSI Circuit Testing - The Springer International Series in Engineering and Computer Science - Debashis Bhattacharya - Libros - Springer - 9780792390589 - 31 de diciembre de 1989
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Debashis Bhattacharya
Hierarchical Modeling for VLSI Circuit Testing - The Springer International Series in Engineering and Computer Science 1990 edition

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To match this high-level circuit model, we introduce a high-level bus fault that, in effect, replaces a large number of SSL faults and allows them to be tested in parallel.

160 pages, biography

Medios de comunicación Libros     Hardcover Book   (Libro con lomo y cubierta duros)
Publicado 31 de diciembre de 1989
ISBN13 9780792390589
Editores Springer
Páginas 160
Dimensiones 155 × 235 × 11 mm   ·   426 g
Lengua Inglés  

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