Analog and Mixed-Signal Boundary-Scan: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard - Frontiers in Electronic Testing - Adam Osseiran - Libros - Springer - 9780792386865 - 31 de octubre de 1999
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Adam Osseiran
Analog and Mixed-Signal Boundary-Scan: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard - Frontiers in Electronic Testing 1999 edition

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Testing of a system does not follow directly from the testing of its parts, and a system built with testable parts can sometimes be impossible to test. Even if all digital chips are compliant with the standard, the testability of a mixed-signal system cannot be guaranteed.

156 pages, biography

Medios de comunicación Libros     Hardcover Book   (Libro con lomo y cubierta duros)
Publicado 31 de octubre de 1999
ISBN13 9780792386865
Editores Springer
Páginas 156
Dimensiones 156 × 234 × 11 mm   ·   426 g
Editor Osseiran, Adam

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