Analog Layout Generation Performance and Manufacturability - the Springer International Series in Engineering and Computer Science - Koen Lampaert - Libros - Kluwer Academic Publishers - 9780792384793 - 30 de abril de 1999
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Analog Layout Generation Performance and Manufacturability - the Springer International Series in Engineering and Computer Science 1999 edition

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Outlines a criterion to quantify the detectability of a fault and combines this with a yield model to evaluate the testability of an integrated circuit layout. This book is intended for analog engineers, researchers and students.


190 pages, biography

Medios de comunicación Libros     Hardcover Book   (Libro con lomo y cubierta duros)
Publicado 30 de abril de 1999
ISBN13 9780792384793
Editores Kluwer Academic Publishers
Páginas 190
Dimensiones 155 × 235 × 12 mm   ·   453 g
Lengua Inglés  

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