Delay Fault Testing for VLSI Circuits - Frontiers in Electronic Testing - Angela Krstic - Libros - Springer - 9780792382959 - 31 de octubre de 1998
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Angela Krstic
Delay Fault Testing for VLSI Circuits - Frontiers in Electronic Testing 1998 edition

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In that sense, this book is the best x DELAY FAULT TESTING FOR VLSI CIRCUITS available guide for an engineer designing or testing VLSI systems. Tech niques for path delay testing and for use of slower test equipment to test high-speed circuits are of particular interest.

191 pages, biography

Medios de comunicación Libros     Hardcover Book   (Libro con lomo y cubierta duros)
Publicado 31 de octubre de 1998
ISBN13 9780792382959
Editores Springer
Páginas 191
Dimensiones 155 × 235 × 12 mm   ·   476 g
Lengua Inglés  

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