Defects in SiO2 and Related Dielectrics: Science and Technology - NATO Science Series II - L Skuja - Libros - Springer - 9780792366850 - 31 de diciembre de 2000
En caso de que portada y título no coincidan, el título será el correcto

L Skuja
Defects in SiO2 and Related Dielectrics: Science and Technology - NATO Science Series II 2000 edition

Precio
$ 209,99
sin IVA

Pedido desde almacén remoto

Entrega prevista 23 de jun. - 6 de jul.

Nuestros clientes opinan:

Política de devolución de 14 días conforme a la legislación europea de protección de los consumidores
Mejor valorado en Trustpilot
Añadir a tu lista de deseos de iMusic

Proceedings of the NATO Advanced Study Institute, Erice, Italy, April 8-20, 2000

624 pages, 87 black & white illustrations, biography

Medios de comunicación Libros     Hardcover Book   (Libro con lomo y cubierta duros)
Publicado 31 de diciembre de 2000
ISBN13 9780792366850
Editores Springer
Páginas 624
Dimensiones 155 × 235 × 34 mm   ·   1,06 kg
Lengua Inglés  
Editor Griscom, David L.
Editor Pacchioni, Gianfranco
Editor Skuja, Linards

Mere med samme udgiver

Ver todo de L Skuja ( Ej. Hardcover Book )