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VLSI Test Symposium (VTS 2004) Ieee
VLSI Test Symposium (VTS 2004)
Ieee
The proceedings of the 21st IEEE VLSI test symposium (VTS (2003) describing innovations in the testing of integrated circuits and systems.
| Medios de comunicación | Libros Paperback Book (Libro con tapa blanda y lomo encolado) |
| Publicado | 2004 |
| ISBN13 | 9780769521343 |
| Editores | IEEE Computer Society Press,U.S. |
| Páginas | 550 |
| Dimensiones | 150 × 220 × 10 mm · 911 g (Peso (estimado)) |
| Lengua | Inglés |