2000 European Test Workshop (Etw) IEEE Postproceed - Ieee - Libros - IEEE Computer Society Press,U.S. - 9780769507019 - 1 de noviembre de 2000
En caso de que portada y título no coincidan, el título será el correcto

Ieee
2000 European Test Workshop (Etw) IEEE Postproceed

Recibe un correo electrónico cuando el artículo esté disponible
¿Tienes un perfil? Iniciar sesión

Nuestros clientes opinan:

Política de devolución de 14 días conforme a la legislación europea de protección de los consumidores
Mejor valorado en Trustpilot
Añadir a tu lista de deseos de iMusic

The 25 papers cover delay testing and test scheduling, scan and functional testing, system testing, quiescent current testing, analog and mixed-signal testing, core-based testing, fault simulation and field programmable gate array testing, challenges in deep sub-micron testing, high level tests, mem

Medios de comunicación Libros     Paperback Book   (Libro con tapa blanda y lomo encolado)
Publicado 1 de noviembre de 2000
ISBN13 9780769507019
Editores IEEE Computer Society Press,U.S.
Páginas 181
Dimensiones 216 × 273 × 13 mm   ·   650 g   (Peso (estimado))
Lengua Inglés  

Mere med samme udgiver

Ver todo de Ieee ( Ej. Paperback Book , Hardcover Book , CD-ROM y Book )