Thin Film Materials: Stress, Defect Formation and Surface Evolution - Freund, L. B. (Brown University, Rhode Island) - Libros - Cambridge University Press - 9780521822817 - 8 de enero de 2004
En caso de que portada y título no coincidan, el título será el correcto

Freund, L. B. (Brown University, Rhode Island)
Thin Film Materials: Stress, Defect Formation and Surface Evolution

Precio
$ 137,99
sin IVA

Pedido desde almacén remoto

Entrega prevista 24 de sep. - 7 de oct.
Recibe notificaciones sobre nuevos lanzamientos de Freund, L. B. (Brown University, Rhode Island)

Nuestros clientes opinan:

Política de devolución de 14 días conforme a la legislación europea de protección de los consumidores
Mejor valorado en Trustpilot
Añadir a tu lista de deseos de iMusic

Aún no valorado

También disponible como:

Thin film mechanical behavior and stress presents a technological challenge for materials scientists, physicists and engineers. Describing fundamental concepts with practical case studies, highly illustrated, thorough referencing and containing numerous homework problems, this book will be essential for graduate courses on thin films and the classic reference for researchers.

770 pages, 75 b/w illus. 75 exercises

Medios de comunicación Libros     Hardcover Book   (Libro con lomo y cubierta duros)
Publicado 8 de enero de 2004
ISBN13 9780521822817
Editores Cambridge University Press
Páginas 770
Dimensiones 180 × 255 × 43 mm   ·   1,64 kg   (Peso (estimado))
Lengua Inglés  

Más del mismo editor

Ver todo de Freund, L. B. (Brown University, Rhode Island)