Photo-induced Defects in Semiconductors - Cambridge Studies in Semiconductor Physics and Microelectronic Engineering - Redfield, David (Stanford University, California) - Libros - Cambridge University Press - 9780521461962 - 26 de enero de 1996
En caso de que portada y título no coincidan, el título será el correcto

Redfield, David (Stanford University, California)
Photo-induced Defects in Semiconductors - Cambridge Studies in Semiconductor Physics and Microelectronic Engineering

Precio
$ 139,99
sin IVA

Pedido desde almacén remoto

Entrega prevista 23 de jun. - 6 de jul.

Nuestros clientes opinan:

Política de devolución de 14 días conforme a la legislación europea de protección de los consumidores
Mejor valorado en Trustpilot
Añadir a tu lista de deseos de iMusic

También disponible como:

This is the first book to give a complete overview of the properties of deep-level, localized defects in semiconductors. These metastable defects exhibit complex interactions with the surrounding material, and can significantly affect the performance and stability of certain semiconductor devices.

240 pages, 106 b/w illus.

Medios de comunicación Libros     Hardcover Book   (Libro con lomo y cubierta duros)
Publicado 26 de enero de 1996
ISBN13 9780521461962
Editores Cambridge University Press
Páginas 230
Dimensiones 159 × 237 × 22 mm   ·   494 g
Lengua Inglés  

Mere med samme udgiver

Ver todo de Redfield, David (Stanford University, California) ( Ej. Hardcover Book y Paperback Book )