Reflection High-Energy Electron Diffraction - Ichimiya, Ayahiko (Nagoya University, Japan) - Libros - Cambridge University Press - 9780521453738 - 13 de diciembre de 2004
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Ichimiya, Ayahiko (Nagoya University, Japan)
Reflection High-Energy Electron Diffraction

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Reflection high-energy electron diffraction (RHEED) is the analytical tool of choice for characterizing thin films during growth by molecular beam epitaxy, since it is very sensitive to surface structure and morphology. This book serves as an introduction to RHEED and describes detailed experimental and theoretical treatments for experts.

366 pages, 217 b/w illus. 5 tables

Medios de comunicación Libros     Hardcover Book   (Libro con lomo y cubierta duros)
Publicado 13 de diciembre de 2004
ISBN13 9780521453738
Editores Cambridge University Press
Páginas 366
Dimensiones 170 × 244 × 21 mm   ·   884 g
Lengua Inglés  

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