Reflection Electron Microscopy and Spectroscopy for Surface Analysis - Wang, Zhong Lin (Georgia Institute of Technology) - Libros - Cambridge University Press - 9780521017954 - 22 de agosto de 2005
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Wang, Zhong Lin (Georgia Institute of Technology)
Reflection Electron Microscopy and Spectroscopy for Surface Analysis

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Entirely self-contained, this book serves as a comprehensive source for graduate students and working scientists using electron microscopy and spectrometry techniques for surface studies. The text is written to combine basic techniques with special applications, theories with experiments giving a complete coverage of RHEED and REM.

460 pages, 224 b/w illus. 10 tables

Medios de comunicación Libros     Paperback Book   (Libro con tapa blanda y lomo encolado)
Publicado 22 de agosto de 2005
ISBN13 9780521017954
Editores Cambridge University Press
Páginas 460
Dimensiones 170 × 244 × 25 mm   ·   725 g
Lengua Inglés  

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