Failure Mechanisms in Semiconductor Devices - Amerasekera, E. Ajith (Texas Instruments Inc.) - Libros - John Wiley & Sons Inc - 9780471954828 - 4 de agosto de 1997
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Amerasekera, E. Ajith (Texas Instruments Inc.)
Failure Mechanisms in Semiconductor Devices 2.º edición

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In this second edition, the authors identify the sources of failure mechanism in semiconductor devices, examine possible detection and elimination techniques, and determine the effectiveness of reliability devices. The references have been updated and recent advances are discussed.

358 pages, Illustrations

Medios de comunicación Libros     Hardcover Book   (Libro con lomo y cubierta duros)
Publicado 4 de agosto de 1997
ISBN13 9780471954828
Editores John Wiley & Sons Inc
Páginas 360
Dimensiones 156 × 233 × 25 mm   ·   616 g
Lengua Inglés  

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