Semiconductor Material and Device Characterization - IEEE Press - Schroder, Dieter K. (Arizona State University) - Libros - John Wiley & Sons Inc - 9780471739067 - 17 de febrero de 2006
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Semiconductor Material and Device Characterization - IEEE Press 3.º edición

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800 pages, illustrations

Medios de comunicación Libros     Hardcover Book   (Libro con lomo y cubierta duros)
Publicado 17 de febrero de 2006
ISBN13 9780471739067
Editores John Wiley & Sons Inc
Páginas 800
Dimensiones 243 × 164 × 51 mm   ·   1,32 kg
Lengua Inglés  

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