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Electromigration and Electronic Device Degradation A Christou
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Electromigration and Electronic Device Degradation
A Christou
This study reviews an important reliability issue for both silicon and GaAs technologies. It surveys the status of electromigration physics in microelectronics, and summarizes various rate controlling details.
344 pages
| Medios de comunicación | Libros Hardcover Book (Libro con lomo y cubierta duros) |
| Publicado | 14 de enero de 1994 |
| ISBN13 | 9780471584896 |
| Editores | John Wiley & Sons Inc |
| Páginas | 343 |
| Dimensiones | 160 × 240 × 20 mm · 684 g |
| Lengua | Inglés |
| Editor | Christou, Aris (CALCE Electronic Packaging Research Center, University of Maryland) |
