Semiconductor Device and Failure Analysis: Using Photon Emission Microscopy - Chim, Wai Kin (National University of Singapore) - Libros - John Wiley & Sons Inc - 9780471492405 - 22 de diciembre de 2000
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Chim, Wai Kin (National University of Singapore)
Semiconductor Device and Failure Analysis: Using Photon Emission Microscopy

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Fault detection has become increasingly difficult as integrated circuits become more and more complex. Photon Emission Microscopy (PEM) is a physical failure analysis technique which locates and identifies faults in integrated circuits.

288 pages, Illustrations

Medios de comunicación Libros     Hardcover Book   (Libro con lomo y cubierta duros)
Publicado 22 de diciembre de 2000
ISBN13 9780471492405
Editores John Wiley & Sons Inc
Páginas 288
Dimensiones 160 × 237 × 20 mm   ·   716 g

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