Spectroscopic Ellipsometry and Reflectometry: A User's Guide - Tompkins, Harland G. (Motorola, Inc.) - Libros - John Wiley & Sons Inc - 9780471181729 - 6 de abril de 1999
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Tompkins, Harland G. (Motorola, Inc.)
Spectroscopic Ellipsometry and Reflectometry: A User's Guide

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While single wave ellipsometry has been around for years, spectroscopic ellipsometry is fast becoming the method of choice for measuring the thickness and optical properties of thin films. This book provides the first practical introduction to spectroscopic ellipsometry and the related techniques of reflectometry.

248 pages, Illustrations

Medios de comunicación Libros     Hardcover Book   (Libro con lomo y cubierta duros)
Publicado 6 de abril de 1999
ISBN13 9780471181729
Editores John Wiley & Sons Inc
Páginas 248
Dimensiones 237 × 163 × 19 mm   ·   516 g
Lengua Inglés  

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