High-Resolution X-Ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures - Advanced Texts in Physics - Ullrich Pietsch - Libros - Springer-Verlag New York Inc. - 9780387400921 - 27 de agosto de 2004
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Ullrich Pietsch
High-Resolution X-Ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures - Advanced Texts in Physics 2nd ed. 2004 edition

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During the last 20 years interest in high-resolution x-ray diffractometry and reflectivity has grown as a result of the development of the semiconductor industry and the increasing interest in material research of thin layers of magnetic, organic, and other materials.

428 pages, 389 black & white illustrations, biography

Medios de comunicación Libros     Hardcover Book   (Libro con lomo y cubierta duros)
Publicado 27 de agosto de 2004
ISBN13 9780387400921
Editores Springer-Verlag New York Inc.
Páginas 408
Dimensiones 155 × 235 × 23 mm   ·   816 g
Lengua Inglés  

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