Data Mining and Diagnosing IC Fails - Frontiers in Electronic Testing - Leendert M. Huisman - Libros - Springer-Verlag New York Inc. - 9780387249933 - 21 de junio de 2005
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Leendert M. Huisman
Data Mining and Diagnosing IC Fails - Frontiers in Electronic Testing 2005 edition

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The second part contains all the mathematical details that are necessary to prove the validity of the analysis techniques, the existence of solutions to the problems that those techniques engender, and the correctness of several properties that were assumed in the first part.

250 pages, 46 black & white illustrations, biography

Medios de comunicación Libros     Hardcover Book   (Libro con lomo y cubierta duros)
Publicado 21 de junio de 2005
ISBN13 9780387249933
Editores Springer-Verlag New York Inc.
Páginas 250
Dimensiones 155 × 235 × 15 mm   ·   576 g
Lengua Inglés  

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