Stress and Strain Engineering at Nanoscale in Semiconductor Devices - Maiti, Chinmay K. (SOA University Bhubaneswar, Odisha, India) - Libros - Taylor & Francis Ltd - 9780367519339 - 25 de septiembre de 2023
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Stress and Strain Engineering at Nanoscale in Semiconductor Devices

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Based on 3D process and device simulations with mechanical stress simulations by finite element techniques, this book explains performance assessment of nanoscale devices with strained SiGe and other stressors. It explains the process-induced stress transfer and developments at 7nm technology and below node in the area of strain-engineered devices.


260 pages, 23 Tables, black and white; 136 Line drawings, black and white; 3 Halftones, black and wh

Medios de comunicación Libros     Paperback Book   (Libro con tapa blanda y lomo encolado)
Publicado 25 de septiembre de 2023
ISBN13 9780367519339
Editores Taylor & Francis Ltd
Páginas 260
Dimensiones 150 × 220 × 10 mm   ·   220 g
Lengua Inglés  

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