Electron and Ion Microscopy and Microanalysis: Principles and Applications, Second Edition, - Lawrence E. Murr - Libros - Taylor & Francis Ltd - 9780367402945 - 29 de octubre de 2019
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Electron and Ion Microscopy and Microanalysis: Principles and Applications, Second Edition, 2.º edición

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The publication date of the first edition is not stated, but the new edition is apparently considerably revised and expanded. It was written to serve as a multi-purpose text at the senior or graduate level and as a reference for the practicing scientist or engineer. Readers should have a math backgr


856 pages

Medios de comunicación Libros     Paperback Book   (Libro con tapa blanda y lomo encolado)
Publicado 29 de octubre de 2019
ISBN13 9780367402945
Editores Taylor & Francis Ltd
Páginas 856
Dimensiones 150 × 220 × 10 mm   ·   453 g
Lengua Inglés  
Editor Murr, Lawrence E

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