Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability: A Physics of Failure Approach - Lall, Pradeep (Auburn University, Alabama, USA) - Libros - Taylor & Francis Ltd - 9780367400972 - 19 de junio de 2019
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Lall, Pradeep (Auburn University, Alabama, USA)
Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability: A Physics of Failure Approach 1.º edición

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This book raises the level of understanding of thermal design criteria. It provides the design team with sufficient knowledge to help them evaluate device architecture trade-offs and the effects of operating temperatures.

336 pages

Medios de comunicación Libros     Paperback Book   (Libro con tapa blanda y lomo encolado)
Publicado 19 de junio de 2019
ISBN13 9780367400972
Editores Taylor & Francis Ltd
Páginas 336
Dimensiones 150 × 220 × 10 mm   ·   453 g
Lengua Inglés  

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