Scanning Transmission Electron Microscopy: Advanced Characterization Methods for Materials Science Applications - - Libros - Taylor & Francis Ltd - 9780367197360 - 21 de diciembre de 2020
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Scanning Transmission Electron Microscopy: Advanced Characterization Methods for Materials Science Applications 1.º edición

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This book focuses on explaining and applying the principles of machine learning-based techniques and advanced image processing methods currently used in the electron microscopy community suitable for handling large electron microscopy data sets and extracting structure-property information for various materials.

184 pages, 7 Tables, black and white; 25 Illustrations, color; 81 Illustrations, black and white

Medios de comunicación Libros     Hardcover Book   (Libro con lomo y cubierta duros)
Publicado 21 de diciembre de 2020
ISBN13 9780367197360
Editores Taylor & Francis Ltd
Páginas 150
Dimensiones 241 × 159 × 17 mm   ·   406 g
Lengua Inglés  
Editor Bruma, Alina (University of Maryland College Park)

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