Advances in x-Ray Analysis: Proccedings of the Forty-Second Annual Conference on Applications of X-Ray Analysis Held in Denver, Colorado, August 2-6, - John V. Gilfrich (Sachs / Freeman Associates / NRL, Washington, DC, USA) - Libros - Kluwer Academic Publishers Group - 9780306449017 - 30 de septiembre de 1994
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Advances in x-Ray Analysis: Proccedings of the Forty-Second Annual Conference on Applications of X-Ray Analysis Held in Denver, Colorado, August 2-6, 1.º edición

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Medios de comunicación Libros     Hardcover Book   (Libro con lomo y cubierta duros)
Publicado 30 de septiembre de 1994
ISBN13 9780306449017
Editores Kluwer Academic Publishers Group
Páginas 778
Dimensiones 264 × 184 × 47 mm   ·   1,59 kg
Lengua Inglés  
Editor C.C. Goldsmith
Editor I. Cev Noyan (IBM Research Center, Yorktown Heights, NY, USA)
Editor Ron Jenkins (International Centre for Diffraction Data, Newton Square, Pennsylvania, USA)
Editor Ting C. Huang (IBM Almaden Research Center, San Jose, CA, USA)

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