Logic Testing and Design for Testability - Computer Systems Series - Hideo Fujiwara - Libros - MIT Press Ltd - 9780262561990 - 31 de julio de 1985
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Hideo Fujiwara
Logic Testing and Design for Testability - Computer Systems Series

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Design for testability techniques offer one approach toward alleviating this situation by adding enough extra circuitry to a circuit or chip to reduce the complexity of testing.

304 pages, black & white tables, figures

Medios de comunicación Libros     Paperback Book   (Libro con tapa blanda y lomo encolado)
Publicado 31 de julio de 1985
ISBN13 9780262561990
Editores MIT Press Ltd
Páginas 304
Dimensiones 152 × 229 × 25 mm   ·   408 g
Lengua Inglés  

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