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Logic Testing and Design for Testability - Computer Systems Series Hideo Fujiwara
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Logic Testing and Design for Testability - Computer Systems Series
Hideo Fujiwara
Design for testability techniques offer one approach toward alleviating this situation by adding enough extra circuitry to a circuit or chip to reduce the complexity of testing.
304 pages, black & white tables, figures
| Medios de comunicación | Libros Paperback Book (Libro con tapa blanda y lomo encolado) |
| Publicado | 31 de julio de 1985 |
| ISBN13 | 9780262561990 |
| Editores | MIT Press Ltd |
| Páginas | 304 |
| Dimensiones | 152 × 229 × 25 mm · 408 g |
| Lengua | Inglés |
