Monte Carlo Modeling for Electron Microscopy and Microanalysis - Oxford Series in Optical and Imaging Sciences - Joy, David C. (Director, Electron Microscope Facility, Director, Electron Microscope Facility, University of Tennessee) - Libros - Oxford University Press Inc - 9780195088748 - 15 de junio de 1995
En caso de que portada y título no coincidan, el título será el correcto

Joy, David C. (Director, Electron Microscope Facility, Director, Electron Microscope Facility, University of Tennessee)
Monte Carlo Modeling for Electron Microscopy and Microanalysis - Oxford Series in Optical and Imaging Sciences

Precio
$ 468,99
sin IVA

Pedido desde almacén remoto

Entrega prevista 17 de jun. - 6 de jul.

Nuestros clientes opinan:

Política de devolución de 14 días conforme a la legislación europea de protección de los consumidores
Mejor valorado en Trustpilot
Añadir a tu lista de deseos de iMusic

This book is a practical guide to the use of Monte Carlo simulation techniques for the study of electron solid interactions in the electron microscope. Programs, optimized for use on personal computers, are developed to deal with typical applications including secondary, and back- scattered, electron imaging. EBIC imaging of semiconductors and X-ray microanalysis.

224 pages, line figures, tables

Medios de comunicación Libros     Hardcover Book   (Libro con lomo y cubierta duros)
Publicado 15 de junio de 1995
ISBN13 9780195088748
Editores Oxford University Press Inc
Páginas 224
Dimensiones 234 × 156 × 14 mm   ·   499 g
Lengua Inglés  

Mere med samme udgiver

Ver todo de Joy, David C. (Director, Electron Microscope Facility, Director, Electron Microscope Facility, University of Tennessee) ( Ej. Hardcover Book )