Reliability and Failure of Electronic Materials and Devices - Ohring, Milton (Stevens Institute of Technology, Hoboken, NJ, USA (Retired)) - Libros - Elsevier Science Publishing Co Inc - 9780120885749 - 1 de diciembre de 2014
En caso de que portada y título no coincidan, el título será el correcto

Ohring, Milton (Stevens Institute of Technology, Hoboken, NJ, USA (Retired))
Reliability and Failure of Electronic Materials and Devices 2.º edición

Precio
$ 192,99
sin IVA

Pedido desde almacén remoto

Entrega prevista 19 de jun. - 8 de jul.

Nuestros clientes opinan:

Política de devolución de 14 días conforme a la legislación europea de protección de los consumidores
Mejor valorado en Trustpilot
Añadir a tu lista de deseos de iMusic

También disponible como:

Offers coverage of some of the major topics related to the performance and failure of materials used in electronic devices and electronics packaging. This book explains the common mechanisms that lead to electronics materials failures, including dielectric breakdown, hot-electron effects and radiation damage.

758 pages, colour illustrations

Medios de comunicación Libros     Hardcover Book   (Libro con lomo y cubierta duros)
Publicado 1 de diciembre de 2014
ISBN13 9780120885749
Editores Elsevier Science Publishing Co Inc
Páginas 758
Dimensiones 165 × 232 × 46 mm   ·   1,17 kg
Lengua Inglés  

Mas por Ohring, Milton (Stevens Institute of Technology, Hoboken, NJ, USA (Retired))

Mostrar todo

Mere med samme udgiver

Ver todo de Ohring, Milton (Stevens Institute of Technology, Hoboken, NJ, USA (Retired)) ( Ej. Hardcover Book y Paperback Book )